Analizator VNF-200 VCSEL został zaprojektowany specjalnie do analizy właściwości bliskiego pola powierzchniowego VCSEL, który zapewnia szybką prędkość pomiaru, wysoką rozdzielczość optyczną i wysoką dokładność pomiaru. Przyrząd wykorzystuje system mikrooptyczny w połączeniu z systemem obrazowania i zoptymalizuje konstrukcję w oparciu o cechy VCSEL, aby umożliwić analizę promieniowania mikroobrazowania VCSEL o wysokim powiększeniu. Uzyskiwanie danych o układzie powierzchni VCSEL dwuwymiarowej, wykrywaniu złych punktów i jasności promieniowania za pośrednictwem pojedynczego pomiaru, przy jednoczesnym uzyskaniu pojedynczych wymiarów punktów. Wyposażone w specjalne oprogramowanie analityczne umożliwiające wytwarzanie sprawozdań z testów zgodnych z normami. Do szybkiej i precyzyjnej analizy właściwości powierzchni VCSEL w liniach produkcyjnych i laboratoriach.